X、γ射線檢測(cè)技術(shù)指標(biāo)
日期：2025-04-27 08:21
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摘要：
MW19-451P型X、γ射線檢測(cè) 87.99.00.00 - 02140
X、γ射線檢測(cè)性能指標(biāo)：
X、γ射線檢測(cè)儀器原理: 電離室
檢測(cè)射線: 大于１MeV的β射線，大于25KeV的X、γ射線。 量程范圍: 0～500μR/h(0～5μSv/h)
0～5mR/h(0～50μSv/h
0～50mR/h(0～500μSv/h)
0～500mR/h(0～5mSv/h)
0～5R/h(0～50mSv/h
不確定度： + 讀數(shù) × 1 0%（在滿量程的10%～100%） 檢 測(cè) 器： 230cc空氣電力室（室壁為200mg/cm2的厚塑料），加壓到6個(gè)大氣壓。 預(yù)熱時(shí)間： 在本底值低于10μR/h的環(huán)境中檢測(cè)低于20μR/h的射線，需預(yù)熱4分鐘。 響應(yīng)時(shí)間： 0～500μR/h(0～5μSv/h)：5s
0～5mR/h(0～50μSv/h)：2s
0～50mR/h(0～500μSv/h)：1.8s
0～500mR/h(0～5mSv/h)：1.8s
0～5R/h(0～50mSv/h)：1.8s
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