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X、γ射線檢測探傷原理的描述
日期：2025-04-27 08:20
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摘要：
X、γ射線檢測探傷原理如下：
利用 X射線或γ射線在穿透被檢物各部分時(shí)強(qiáng)度衰減的不同，檢測被檢物中缺陷的一種無損檢測方法。
原理：被測物體各部分的厚度或密度因缺陷的存在而有所不同。當(dāng)X射線或γ射線在穿透被檢物時(shí),射線被吸收的程度也將不同。若射線的原始強(qiáng)度為
,通過線吸收系數(shù)為μ的、厚度為t的材料后，強(qiáng)度因被吸收而衰減為
，其關(guān)系為
。若將受到不同程度吸收的射線投射在X射線膠片上,經(jīng)顯影后可得到顯示物體厚度變化和內(nèi)部缺陷情況的照片（X射線底片）。這種方法稱為X射線照相法。如用熒光屏代替膠片直接觀察被檢物體，稱為透視法。如用光敏元件逐點(diǎn)測定透過后的射線強(qiáng)度而加以記錄或顯示，則稱為儀器測定法。
,通過線吸收系數(shù)為μ的、厚度為t的材料后，強(qiáng)度因被吸收而衰減為，其關(guān)系為。若將受到不同程度吸收的射線投射在X射線膠片上,經(jīng)顯影后可得到顯示物體厚度變化和內(nèi)部缺陷情況的照片（X射線底片）。這種方法稱為X射線照相法。如用熒光屏代替膠片直接觀察被檢物體，稱為透視法。如用光敏元件逐點(diǎn)測定透過后的射線強(qiáng)度而加以記錄或顯示，則稱為儀器測定法。尊敬的客戶：
